ГОСТ Р 8.593-2009 - неизвестно. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки (State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Verification method) Актуализация текста и описания: 27.10.2010
Введен в действие: 01.11.2010 |