ГОСТ 26239.7-84 - действующий. Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота (Semiconductor silicon. Method of oxygen, carbon and nitrogen determination)
Актуализация текста и описания: 27.10.2010
Введен в действие: 01.01.1986
ГОСТ устанавливает метод определения кислорода, углерода и азота в полупроводниковом кремнии с использованием активации ускоренными ионами и протонами |
| | Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен»
|
