Как выглядят самые современные сканирующие микрокопы?

СЗМ – это устройства, позволяющие получить точные изображения и характеристики сверхмалых объектов. Достигается это за счет сканирования образца при помощи специального зонда. На основании поступающих от него данных компьютерная система строит подробное трехмерное изображение объекта исследования.

Особенности СЗМ

Главный элемент аппарата – сверхтонкая игла, способная взаимодействовать практически с отдельными атомами вещества. Воздействие на нее различных сил фиксируется чувствительными датчиками, данные от которых поступают в вычислительное устройство. На их основе синтезируется картина строения поверхности исследуемого объекта.

К главным особенностям таких изделий можно отнести:

1. Зонд в виде сверхтонкой конусообразной иглы. Ее размер должен быть сопоставим с изучаемыми объектами.
2. Система перемещения зонда должна обеспечивать его смещение по координатной сетке.

Также в состав аппарата входит регистрирующая система. Она отсекает возникающие в процессе работы помехи и усиливает нужные сигналы.

Особенности модели EZAFM

Это один из самых компактных и простых в применении атомных микроскопов, что делает его отличным решением для обучения. Также он успешно используется в проведении различных фундаментальных исследований, решении производственных задач. Главные преимущества EZAFM:

1. Компактность. Устройство легко транспортировать, для подготовки к работе на новом месте достаточно нескольких минут.
2. Гибкие настройки. Пользователь может самостоятельно и без особого труда менять сканирующие головки, задавать диапазоны сканирования.
3. Простота использования. Замена кантилевера больше не создает дополнительных проблем. Это достигается за счет применения юстировочных чипов, которые делают ненужной повторную юстировку лазера.

В комплекте имеется две сканирующие головки, что позволяет изучать разнородные материалы без необходимости приобретения дополнительных модулей. Подробнее об этом микроскопе можно прочитать здесь - https://nanoafm.ru/produktsiya/skaniruyushchie-zondovye-mikroskopy/130-ezafm

Характеристики AMBIENT AFM/MFM

Микроскоп хорошо работает как на воздухе, так и в жидкости. С помощью этой модели СЗМ можно получить большой объем ценной информации о строении образца на атомарном уровне. В число стандартных режимов работы входят такие режимы:

• Контактный.
• Прерывистый/фазовый контраст.
• Боковая сила.
• EFM.
• MFM.

Аппарат может функционировать в множестве дополнительных режимов, например, в качестве пьезо-ответного силового микроскопа или проводящего ACM. Максимальное разрешение при условии использования сканера 4х4 мкм составляет менее 0,005 нм. Такие характеристики делают AMBIENT AFM/MFM отличным решением для использования в НИОКР и анализа продукции серийного производства.

Подробнее о AMBIENT AFM/MFM - https://nanoafm.ru/produktsiya/skaniruyushchie-zondovye-mikroskopy/135-ambient-afm-mfm