ГОСТ 26239.5-84 - действующий. Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination) Актуализация текста и описания: 27.10.2010
Введен в действие: 01.01.1986
ГОСТ устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
| Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен»
|